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冷热冲击试验箱、高低温冲击试验箱、温度冲击试验箱、快速温度变化试验箱、高低温老化试验箱、可程式恒温恒湿试验机、恒温恒湿试验箱、恒温恒湿箱、高低温试验箱、步入式恒温恒湿试验箱、高低温快速温变试验箱、盐雾试验箱、盐雾腐蚀试验机、氙灯老化试验箱、氙灯加速老化试验机、UV紫外光加速老化试验机、高低温加速老化试验箱、UV紫外线老化试验机、快速温变湿热试验箱、步入式高低温湿热试验室、PCT加速老化试验箱、HAST加速老化试验机、电磁式高频振动台、振动冲击试验台、万能材料拉力试验机、包装跌落试验机、电池冲击挤压针刺综合实验机、温湿度振动三综合试验箱。
产品详情

5G芯片快速温变试验箱

  • 产品名称:5G芯片快速温变试验箱
  • 产品型号:HT-BT系列
  • 品牌:华台仪器
  • 产品价格:¥0
  • 折扣价格:¥0
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简单介绍
5G芯片快速温变试验箱主要用于考察5G芯片、工业制品、电子零件、汽车零件、笔记本计算机、光电器件、互连电路、组件单元、电子设备在气候环境温湿度组合条件下高低温操作、低温储存、温度循环、高温高湿、低温低湿、结露实验等,5G芯片快速温变试验箱是检测5G芯片自身的适应能力与特性在热机械性能引起的失效筛选试验和失效模式评估。

5G芯片快速温变试验箱

详细介绍

一、5G芯片快速温变试验箱介绍

东莞市华台测试仪器有限公司设计、生产的5G芯片快速温变试验箱主要用于考察5G芯片、工业制品、电子零件、汽车零件、笔记本计算机、光电器件、互连电路、组件单元、电子设备在气候环境温湿度组合条件下高低温操作、低温储存、温度循环、高温高湿、低温低湿、结露实验等,检测5G芯片自身的适应能力与特性在热机械性能引起的失效筛选试验和失效模式评估。


二、5G芯片快速温变试验箱温度控制系统

1.可实现温度定值控制和程序控制

2.全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯

3.每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性

4.USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要

5.采用国际流行的制冷控制模式,可以0%~100 %自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%

6.制冷及电控关键配件均采用国际知名品牌产品,使设备的整体质量得到了提升和保证



三、5G芯片快速温变试验箱标准技术参数

1.工作室尺寸:225L、408L、800L、1000L、1500L、2000L(可按需求定制)

2.承载重量:20~100(kg)

3.温度范围:-70℃~+180℃;-60℃~+150℃;-40℃~+150℃;-20℃~+150℃

4.温变速率:3℃/min;5℃/min;8℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min

5.温变范围:-55℃~+125℃(高温至少+85℃以上)

6.湿度范围: 20%~98%

7.温度波动度:±0.3℃

8.温度偏差:≤±1.5℃

9.均匀度:±1.5℃

10.湿度稳定度:±1.0%RH

11.湿度均匀度:±3.0%RH

12.制冷剂:R-404A/R-23

13.制冷系统:原装进口全/半封闭“泰康/比泽尔”牌压缩机二元复叠模块化机组制冷

14.加热系统:进口SUS304#不锈钢鳍片式耐湿、耐热、耐寒空气式加热控温

15.加湿系统:钛合金护套式电加热加湿器,均匀湿气发生装置

16.节能方式:冷端PID调节(即加热不制冷,制冷不加热),比平衡调温方式节能30%

17.保护装置:压缩机过载、过流、超压保护;漏电保护;内箱超温保护;加热管空焚保护

18.标准配置:观测窗一个;LED视窗灯一支;保险管2支;物料架2套

19.电源:AC220V(三线制)±10% 或 AC380V(五线制)±5%

20.功率:5.0KW~24.5KW


四、5G芯片快速温变试验箱测试执行标准

1.GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件

2.GB/T 10586 -2006 湿热试验箱技术条件

3.GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温

4.GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

5.GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验

6.GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h + 12h循环)

7.GB/T 2423.22-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验N:温度变化

8.GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则

9.GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验

10.GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法第4部分:低温试验

11.GJB 150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法第9部分:湿热试验


五、5G芯片快速温变试验箱测试要求标准

1.MIL-STD-2164、GJB-1032-90电子产品应力筛选

高温:150℃ 低温:-60℃ 温变率:5℃/min 循环数:10~12次 循环时间:3h20min

2.MIL-344A-4-16电子设备环境应力筛选

高温:71℃ 低温:-54℃ 温变率:5℃/min 循环数:10次 循环时间:3h20min

3.MIL-2164A-19电子设备环境应力筛选

高温:150℃ 低温:-60℃ 温变率:10℃/min 循环数:10次 循环时间:工作室达到指定温度10℃时

4.NABMAT-9492美军*制造筛选

高温:55℃ 低温:-53℃ 温变率:15℃/min 循环数:10次 循环时间:工作室达到指定温度15℃时

5.GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选

高温:85℃ 低温:-55℃ 温变率:15℃/min 循环数:≧25次 循环时间:工作室达到温度稳定的时间

6.GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选

高温:70℃ 低温:-55℃ 温变率:5℃/min 循环数:≧10次 循环时间:工作室达到温度稳定的时间

7.笔记型计算机

高温:85℃ 低温:-40℃ 温变率:15℃/min 循环数:≧10次 循环时间:3h20min

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