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冷热冲击试验箱、高低温冲击试验箱、温度冲击试验箱、快速温度变化试验箱、高低温老化试验箱、可程式恒温恒湿试验机、恒温恒湿试验箱、恒温恒湿箱、高低温试验箱、步入式恒温恒湿试验箱、高低温快速温变试验箱、盐雾试验箱、盐雾腐蚀试验机、氙灯老化试验箱、氙灯加速老化试验机、UV紫外光加速老化试验机、高低温加速老化试验箱、UV紫外线老化试验机、快速温变湿热试验箱、步入式高低温湿热试验室、PCT加速老化试验箱、HAST加速老化试验机、电磁式高频振动台、振动冲击试验台、万能材料拉力试验机、包装跌落试验机、电池冲击挤压针刺综合实验机、温湿度振动三综合试验箱。
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5G芯片高低温冲击试验箱

  • 产品名称:5G芯片高低温冲击试验箱
  • 产品型号:
  • 品牌:华台仪器
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简单介绍
5G芯片高低温冲击试验箱适用于不同规格的芯片、产品整机、元器件、零部件、复合材料、动力电池、新能源组件等经受极高温、极低温急剧交变试验测试的能力。5G芯片高低温冲击试验箱能够试验试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。从而可作为产品改进的依据或参考。

5G芯片高低温冲击试验箱

详细介绍

一、5G芯片高低温冲击试验箱介绍

5G芯片高低温冲击试验箱适用于5G芯片、测试产品整机、元器件、零部件、材料结构、复合材料、动力电池、新能源组件等经受极高温、极低温急剧交变试验测试的能力。5G芯片高低温冲击试验箱能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为高低温温度值、样品在高温低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素,从而可作为产品改进的依据或参考。


二、5G芯片高低温冲击试验箱标准技术参数

1.工作室尺寸:50L、100L、150L、200L、300L、500L、800L、1000L(可按要求定制尺寸)

2.温度冲击范围:A:-40℃~+150℃ B:-55℃~150℃ C:-65℃~+150℃

3.高温室蓄能时间:常温RT~+180℃≤25min

4.低温室蓄能时间:+20℃~-70℃≤80min +20℃~-60℃≤70min +20℃~-40℃≤60min

5.降温速率:0.7~1.5℃/min(特殊定制:快速温变型5℃~20℃/min,线性/非线性)

6.温度波动度:≤±0.5℃

7.试验室温度偏差:±≤2℃

8.温度恢复时间:≤5min

9.试验方式:气动风门切换两温室或三温室方式

10.制冷系统:法国原装进口“泰康”或“比泽尔”牌压缩机二元复叠模块化机组

11.节能方式:冷端PID调节(即加热不制冷,制冷不加热),比平衡调温方式节能30%

12.制冷剂:R-404A/R-23

13.冷凝器:不锈钢钎焊板式换热器

14.加热器:镍铬合金电加热器

15.加热器、冷却器:镍铬合金电加热、翅片式冷却器、蓄冷器

16.气动气缸:高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用

17.排风系统:全自动排风装置内置式,无需额外增加抽风电机

18.保护装置:压缩机过载、过流、超压保护;漏电、内箱超温、加热管空焚保护

19.操作界面:7寸彩色液晶显示触摸屏,中/英文菜单提示

20.程序记忆容量:100组用户程序(可自行编制)  

21.电源:AC380V(五线制)±5%

22.功率:12kw;15.5kw;18.5kw


三、5G芯片高低温冲击试验箱测试标准程序

1.CJ602S3I

(1)高温暴125℃,低温暴露-40℃,暴露时间均30min

(2)高温150℃暴露30min,环境温度5min,低温-55℃暴露30min

2.CJ602SII

(1)高温暴露125℃,低温暴露-40℃,暴露时间均30min

(2)高温150℃暴露30min,环境温度5 min,低温-55℃暴露30min

(3)高温暴露 150℃,低温暴露-55℃,暴露时间均30min

3.CJ603S3I

(1)高温暴露125℃,低温暴露-40℃,暴露时间均30min

(2)高温150℃暴露30min,环境温度5 min,低温-55℃暴露30min

4.CJ603S3II

(1)高温暴露125℃,低温暴露-40℃,暴露时间均30min

(2)高温150℃暴露30min,环境温度5 min,低温-55℃暴露30min

(3)高温暴露150℃,低温暴露-55℃,暴露时间均30min

5.CJ605S3I

(1)高温125℃暴露,低温-40℃暴露,暴露时间均30min

(2)高温150℃暴露30min,环境温度5 min,低温-55℃暴露30min

6.CJ605S3II

(1)高温125℃暴露,低温-40℃暴露,暴露时间均30min

(2)高温125℃暴露30min,环境温度暴露5 min,低温-55℃暴露30min

(3)高温150℃暴露30min,低温- 55℃暴露30min


四、5G芯片高低温冲击试验箱测试执行标准

1.GB/T2423.1-2001低温试验方法。

2.QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则。

3.满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化。

4.SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式。

5.SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式。

6.GB/T2423.2-2001;GB/T2423.22-1989温度变化试验N。

7.GJB360.7-87温度冲击试验;GJB367.2-87 405温度冲击试验。

8.GJB150.3-86;GJB150.4-86;GJB150.5-86;GJB150.5-86温度冲击试验。

9.EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

10.GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;GB/T 2423.22-2002温度变化。

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